DualScope MPO漆膜測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

DualScope MPO漆膜測(cè)厚儀

 DualScope MPO漆膜測(cè)厚儀

新款DUALSCOPE®MP0采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭
技術(shù)，是*為小巧并能大程度滿足您測(cè)量需要的
儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不
復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭，采用磁
感應(yīng)及電渦流方法，可快速無(wú)損地測(cè)量涂鍍層厚
度。DUALSCOPE®MP0自動(dòng)識(shí)別基材例如鐵或鋁并選擇適
合的測(cè)量方法。可顯示*重要的統(tǒng)計(jì)參數(shù)。由于有著
出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)功能，使得這款儀
器在同級(jí)別產(chǎn)品中。
袖珍儀器中的技術(shù)
DUALSCOPE®MP0有以下技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：
• 可在所有的金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測(cè)
量
• 儀器自動(dòng)識(shí)別鍍層下的基材材料并選擇相應(yīng)的測(cè)量
方法
• 出色的重復(fù)精度
• 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度
等）影響小
• 享有磚利的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流方法）
• 足夠小巧，甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進(jìn)行可
靠的測(cè)量
日常使用的理想選擇
• 無(wú)需校準(zhǔn)即可測(cè)量。在被測(cè)件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生
大的改變時(shí)，單點(diǎn)校準(zhǔn)功能可修正這些影響并在選
定的測(cè)量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量
• 執(zhí)行簡(jiǎn)易的零點(diǎn)校正（歸一化）可在被測(cè)件形狀或
基材材質(zhì)發(fā)生小的改變時(shí)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測(cè)量
• 統(tǒng)計(jì)功能（包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、*大值和*小
值）
• 快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測(cè)
量讀數(shù)
• 兩個(gè)背光LCD顯示屏，可方便地在儀器的任何位置，
甚至是頂部，看到讀數(shù)
• 自動(dòng)開機(jī)/關(guān)機(jī)功能
• 由于經(jīng)過(guò)加固處理及采用了有硬質(zhì)鍍層的探頭，儀
器經(jīng)久耐用
• 輕巧，包含電池在內(nèi)僅重132克
其他實(shí)用功能
• 連續(xù)測(cè)量模式可掃描工件表面涂鍍層厚度，例如：
大容器結(jié)構(gòu)
• 可儲(chǔ)存1000個(gè)讀數(shù)
• 測(cè)量時(shí)有聲音和光學(xué)信號(hào) 

Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測(cè)試樣片、Helmut Fischer涂層測(cè)厚儀、Helmut Fischer X射線熒光測(cè)量?jī)x、Helmut Fischer微硬度測(cè)試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測(cè)試儀、Helmut Fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀等。

Helmut Fischer涂層測(cè)厚儀 DELTASCOPE FMP10，F(xiàn)MP20，F(xiàn)MP30，F(xiàn)MP40儀器系列可以輕松，快速，非破壞性地測(cè)量涂層厚度，并且具有所有FISCHER儀器的典型精度。 超過(guò)70個(gè)探頭可以連接到FMP10到FMP40。 因此，您甚至可以解決比較復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)。測(cè)量范圍，真實(shí)度和重復(fù)精度取決于連接的探頭。 該信息可在相應(yīng)的探針數(shù)據(jù)表中找到。