PhaScope PMP10測(cè)厚儀非接觸式測(cè)量的詳細(xì)資料：

PhaScope PMP10測(cè)厚儀非接觸式測(cè)量

渦流相位法原理：
勵(lì)磁電流產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，該磁場(chǎng)在材料（鍍層或基材）中感生渦流。
應(yīng)用鍍層材料和底層材料中渦流的形態(tài)不同進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。
利用對(duì)材料電導(dǎo)率的函數(shù)關(guān)系，可以測(cè)量導(dǎo)電性。
勵(lì)磁電流與測(cè)量信號(hào)之間的相位改變量 φ 轉(zhuǎn)變成鍍層厚度值，或各自的電導(dǎo)率值。
在由探頭決定的一定范圍內(nèi)，讀數(shù)與探頭和鍍層表面的距離無(wú)關(guān)－非接觸測(cè)量

使用針對(duì)特定測(cè)量任務(wù)進(jìn)行了優(yōu)化的探針，PHASCOPE®PMP10特別適用于以下幾種：

1. 測(cè)量鋼上鎳的鍍層厚度
2. 測(cè)量鋼上的鋅或銅 - 盡管表面粗糙，表面幾何復(fù)雜
3. 測(cè)量有色金屬上有色金屬的厚度，給出足夠的導(dǎo)電性差異，例如 黃銅或青銅上的銅
4. 測(cè)量絕緣基板上有色金屬的厚度，如電路板上的銅層。

探頭選擇

特點(diǎn)：

• 手持式儀器，根據(jù)相位敏感電渦流法快速、準(zhǔn)確地測(cè)量鍍層厚度，符合 DIN EN ISO 21968 標(biāo)準(zhǔn)
• 可測(cè)量印刷電路板上的銅厚度（頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu）
• 可測(cè)量印刷電路板中孔銅厚度（探頭 ESL080）
• 可測(cè)量鐵、非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上金屬涂層的厚度
• 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能：傳輸和保存測(cè)量值，全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估，簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

• 測(cè)量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層（適合粗糙表面的探頭ESD20Zn）
• 鋼制小部件上的鋅鍍層（用于較小測(cè)量面積的探頭 ESD2.4）
• 鋼鐵上的電鍍鎳層（探頭ESD20Ni，頻率 60 KHz 或 240 kHz)
•