FISCHERSCOPE進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210的詳細資料：

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介：

        FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

        XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用；跟XUL類似。可選用自動測量的可編程工作臺.

篤摯儀器（上海）有限公司是從事測試儀器儀表設備的代理、銷售和服務的專業性公司。與國內外*儀表生產廠商有著廣泛的技術與銷售合作的良好基礎，秉承“誠信、進取、團結、創新”的企業精神，廣泛服務于國內科研、教育、工業、醫療和政府機構。

熒光鍍層分析儀XDL 210特征:

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。Z高工作條件:50KV,50W
• X射線探測器采用比例接收器
• 準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本濾片：固定或3個自動切換
• 測量距離可在0-80 mm范圍內調整
• 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。
• 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節

典型應用領域:

• 大批量電鍍件測量
• 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
• 電鍍行業槽液分析
• 線路板行業如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
• 測量接插件和觸點的鍍層
• 電子和半導體行業的功能性鍍層測量
• 黃金，珠寶和手表行業

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作，測量數據的計算，以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。