Surtronic DUO分體式粗糙度測量儀的詳細資料：
| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
Surtronic DUO分體式粗糙度測量儀
Surtronic DUO粗糙度儀是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測Ra，Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。
表面粗糙度基礎：
每個組件表面都會有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預測組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數(shù)對表面特征進行量化。
表面紋理參數(shù)可分為三個基本類型:
振幅參數(shù)-測量表面偏差的垂直特征
間距參數(shù)-測量表面偏差的水平特征
混合參數(shù)-間距參數(shù)和振幅參數(shù)的組合
樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|，它的長度足以容納進行可靠的統(tǒng)計所需的數(shù)據(jù)量。對于粗糙度和波紋度分析，樣本長度等于選擇的截止長度。
截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數(shù)學方法移除或減少不必要的數(shù)據(jù)以查看重點區(qū)域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。
測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個或多個樣本長度。對于原始輪廓，測定長度等于樣本長度。
標準一適用時，泰勒●霍普森設備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標準所規(guī)定的程序。
測量原理：
通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅(qū)動裝置，確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。
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