Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度的詳細資料：

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

    Helmut Fischer集團是一家受德國和瑞士基金會控股、專業(yè)生產(chǎn)和銷售涂鍍層測厚儀、材料分析儀、微硬度測試儀和材料測試儀的集團公司。集團總部位于德國和瑞士，在德國、美國和英國各建有一個工廠、并設(shè)立了一個研究院和一個用戶應(yīng)用實驗室，在*設(shè)有近50個分公司。
    公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測試和材料測試領(lǐng)域可以為您提供比較良好的解決方案。

    FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供好的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術(shù)，因此能夠為任何測量任務(wù)提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHER臺式熒光射線測厚儀型號及功能

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計的 

XAN

用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。 

XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

XDL / XDLM / XDAL

功能強大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計 

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

XUV

X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。